Космонавтика  Ближние и дальние полеметоды измерения 

1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 39 40 41 42 43 44 45 46 47 48 49 50 51 52 53 54 55 56 57 58 59 60 61 [ 62 ] 63 64 65 66 67 68 69 70 71 72 73 74 75 76 77 78 79 80 81 82 83 84 85 86 87 88 89 90 91 92 93 94 95 96 97 98 99 100 101 102 103 104 105 106 107 108 109 110 111 112 113 114 115 116 117 118 119 120 121 122 123 124 125 126 127 128 129 130 131 132 133 134 135 136 137 138 139 140 141 142 143 144 145 146 147 148 149 150 151 152

Частота, МГц

Нормы РЕ02

Антенный фактор, дБ

Нормы на предварительную калибровку

NB ) . дБмкВ/м

ВВ*) , дБмкВ/ (м МГц)

дБмкВ

ВВ, дБмкВ/МГц

) NB, ВВ - узкополосные и широкополосные сигналы.

Например, для импульсной полосы 18 кГц (-35 дБМГц) выражение (4.57) приобретает вид

£/[дБмкВ/МГц] = (/[дБмкВ] - 20 Ig (0,018 МГц) =

= иЫЪмкВ] + 35 дБМГц. (4.58)

Нормы RE02 MIL-STD-461A были ранее приведены Б столбцах 3 и 4 табл. 4.4. В табл. 4.5 они вновь приведены для частот 1-30 МГц. При использовании широкополосной активной антенны, имеющей неизменный антенный фактор, равный 6 дБ, с помощью метода, рассмотренного в п. 4. 5.8, можно также определить нормы для предварительной калибровки. Эти нормы приведены в табл. 4.5 и изображены на рис. 4.23.

Кривые, подобные изображенным на рис. 4.23, вычерчивают Б увеличенных размерах для различных участков диапазона с указанием конкретных типов датчиков ЗМП, распространяющихся в проводах (токосъемников или зк-Бивалентов сети). Эти кривые фотографическим способом уменьшают до реальных размеров сетки на экране с ячейками по 1 см. Прозрачную позитивную пленку накладывают на экран анализатора спектра и закрепляют в нужном положении липкой лентой. Перед измерениями выполняют калибровку по частоте и амплитуде, а затем фотографируют изображение на экране.



список ЛИТЕРАТУРЫ К ГЛАВЕ 4

1. Andrews R. В. An Impulse Spectral Intensity Measurement System - IEEE Trans., v. IM-15, №4, Dec, 1966.

2. Geselowitz D. B. Response of Idea! Radio Noise Meter to Continuous Sine Wave, Recurrent Impulse, and Random Noise.-IRE Trans., V. RFI-3, № 1, May, 1961, p. 2-10.

3. Palladino J. R. A New Metliod for the Spectral Density Calibration of Impulse Generators.- IEEE Trans., v. EMC-13, № 1, February 1971, p. 2-7.

Глава 5

АНАЛИЗ ПОГРЕШНОСТЕЙ ИЗМЕРЕНИЙ

Погрешности измерений определяются погрешностями приборов (в том числе их калибровки), испытательной установки и методики измерений. После определения источников погрешностей устанавливают тип погрешности: систематические или случайные. Чтобы уменьшить, а в некоторых случаях исключить погрешности, необходимо их оценить, подобрать соответствующий метод вычисления и записать погрешность, относящуюся или к приборам, или к методике измерений. Как будет показано, некоторые погрешности могут быть значительными и достигать ±40 дБ. Субъективные ошибки оператора, связанные с недостатком опыта, здесь не рассматриваются.

Проблема погрешностей измерений всегда существует, так как обстановка, в которой определяют уровень помех и ЭМС, не детерминирована, а вероятностна и является функцией многих переменных. При этом некоторые исходные данные могут отсутствовать или быть недостаточно полными. Предполагая, что преобладатющим является нормальное распределение, можно записать основные составляющие:

бе - среднее квадратическое отклонение из-за изменения влияния окружающей электромагнитной обстановки (ЭМО);

6 j - среднее квадратическое отклонение из-за погрешности измерений степени влияния ЭМП;

bs - среднее квадратическое отклонение из-за выбора производственного запаса относительно технических норм на уровни излучений и восприимчивости;



Oi - среднее квадратическое отклонение, обусловленное изменениями в оборудовании и измерительной аппаратуре испытательной установки.

Для независимых погрешностей и логарифмически нормального распределения полное среднее квадратическое отклонение

01Ш={с1 + с + с1 + с1УК (5.1)

Допустим в качестве примера, что каждая погрешность в (5.1) равна 6 дБ (следовательно, Ct= 12 дБ) и что только в 90 о измерений (вероятность Р = 1,28а) отсутствует влияние ЭМП (т. е. обеспечивается ЭМС). При этом погрешности измерений увеличиваются до 15 дБ (т. е. 12 дБ 1,28) по сравнению с погрешностями при детерминированных условиях, при которых математическое ожидание = 0. Если гарантировать отсутствие влияния ЭМП в 98% случаев измерений {Р = 2,05а), то погрешности измерений увеличиваются до 25 дБ (т. е. 12 2,05). Если предположить, что в (5.1) а = О, то полная (суммарная) погрешность уменьшается с 25 до 21 дБ, т. е. на небольшую величину. Однако если эта погрешность больше других составляющих, например = 12 дБ, то для отсутствия влияния ЭМП в 90% случаев а = 16 дБ. Для 98% случаев суммарная погрешность уже будет 33 дБ (16 2,05), т. е. точность измерений чрезвычайно мала. Приведенный пример иллюстрирует важность анализа погрешностей для прогнозирования ЭМП и ЭМО и измерения характеристик ЭМП.

5.1. ТИПЫ ПОГРЕШНОСТЕЙ ИЗМЕРЕНИЙ

Прежде чем описывать различные типы погрешностей измерений и их влияние на общие результаты испытаний, следует рассмотреть некоторые принципы статистического анализа погрешностей. В настоящем параграфе кратко излагаются особенности систематических и случайных погрешностей.

5.1.1. Систематические погрешности

Систематические погрешности - составляющие погрешности остающиеся постоянными или закономерно изменяющиеся при повторных измерениях одной и той же величины. Они Б основном влияют на среднее значение вероятности.



1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 39 40 41 42 43 44 45 46 47 48 49 50 51 52 53 54 55 56 57 58 59 60 61 [ 62 ] 63 64 65 66 67 68 69 70 71 72 73 74 75 76 77 78 79 80 81 82 83 84 85 86 87 88 89 90 91 92 93 94 95 96 97 98 99 100 101 102 103 104 105 106 107 108 109 110 111 112 113 114 115 116 117 118 119 120 121 122 123 124 125 126 127 128 129 130 131 132 133 134 135 136 137 138 139 140 141 142 143 144 145 146 147 148 149 150 151 152