Обозначение метода

M1L-STD-461В/462В

Сокращенное название метода испытаний

Диапазон частот A1iL-STD-426B

ЭМП, распространяющиеся в проводах (СЕ)

Изъят Изъят

СЕ02.1

Изъят

Изъят

Изъят СЕ06.1

СЕ 07.1

Провода питания

Провода управления и сигнала

Провода питания и сигнала

Провода питания (испытания по методу СЕ02.1)

Провода управления и сигнала (испытания по методу СЕ02.1)

од инверсного фильт-

Антенный разъем. ЭМП, распространяющиеся по проводам

Остроконечные импульсы. Временные характеристики

Восприимчивость к ЭМП в проводах

Провода питания Провода питания Интермодуляция Ослабление нежелательных сигналов

Перекрестная модуляция Остроконечные импульсы, провода питания

Цепи бесшумной настройки

Ослабление нежелательных сигналов (1 генератор)

ЭМП, излучаемые в пространство (RE)

30 Гц-20 кГц 30 Гц-20 кГц

15 кГц*-50 МГц

20 кГц-50 МГц

20 кГц-50 МГц

30 Гц-50 МГц 10 кГц-10 ГГц

Не оговаривается

(CS)

20 Гц-50 кГц 50 кГц-400 МГц 15 кГц*-10 ГГц 15 кГц*-10 ГГц

15 кГц*-10 ГГц Не оговаривается

Не оговаривается

30 Гц-10 ГГц

Магнитное поле Электрическое поле Побочные излучения, в том числе гармоники Магнитное поле Оборудование подвижных объектов

Линии электропередачи

30 Гц-30 кГц 14 кГц-10 ГГц 10 кГц-40 ГГц

20 Гц-50 кГц 150 кГц-1 ГГц

150 кГц-1 ГГц

Продолжение табл. 6.2

Восприимчивость к ЭМП, излученным в пространство (RS)

RS01 RS02

RS03 RS04

RS01.1 RS02.1

RS03.1 RS04.]

Магнитное поле Поле магнитной

нндуК

Электрическое поле Поле параллельной ли-

30 Гц-30 кГц Частота сети питания и спектр остроконечных импульсов 14 кГц-10 ГГц 14 кГц-30 МГц

462.

*) Частота изменена по сравнению с частотой, указанной в MIL-STD-46IAf **) Ранее в извещениях к MILSTD-461A/462 метол был изъят.

деления узкополосных и широкополосных сигналов, соединения испытуемого изделия с системой заземления, способы возбуждения и нагрузки испытуемого изделия, режимы работы. Для некоторых методов испытаний общими являются также влияние отражения от стен экранированной камеры, положение токосъемника, положение антенны, ее поляризация и т. д. Эти вопросы в основном рассматриваются в настоящей главе.

6.2. УСЛОВИЯ ПРОВЕДЕНИЯ ИСПЫТАНИЙ

В параграфе рассматриваются: требования к месту испытаний, влияние отражений от стен экранированной камеры, требования к уровням помех окружающей электромагнитной среды, особенности испытательного стенда, указания о развязке между измерительными приборами и испытуемым изделием и способы использования токосъемников.

6.2.1. Место испытаний

Чтобы ослабить влияние окружающей среды на результаты измерений ЭМП, место испытаний следует освободить от лишнего испытательного оборудования, стульев, столов и т. д. Персонал, не занятый в испытаниях, необходимо удалить из экранированной камеры. Это все позволяет

Внешняя зпентрошвншшая оостаноВна

Смежная энранироВаштя номера

BosdySameM /азрузна

ТруВояроВоВ ила проу.однь/е разьвмь/

Входная ВВерь

Нагрузна а с ила) 6озбуЗител1Г

Рагруэни, ,

генераторы сигналов, мощнь/е генераторы, приемнини и уотрсйстВа отображения сигналов 6 смежной номере

Пространство смежной намерь/

ffsмерительная , , антенна Пространство испытательной намерь/, свободное от оборрдо-Вания и лишнего персонала

Рис. 6.1. Размещение оборудования во внутренней и внешней экранированных камерах

уменьшить антенный эффект проводов, ослабить отражения, возникающие внутри экранированной камеры из-за близости различных объектов и персонала, исключить излучения от неиспытываемого оборудования.

Лучшим способом выполнить сказанное является использование смежной экранированной камеры (рис. 6.1) при условии, что в основной экранированной камере размещены только испытуемое изделие, его датчики, входные и выходные кабели. В смежной камере размещают нагрузку, возбудители, испытательные приборы и персонал, участвующий в испытаниях.

6.2.2. Требования к окружащей электромагнитной среде

Показание измерителя ЭМП можно выразить зависимостью

u =Vuf + ui (6.1)

где и о-измеренная величина, соответствующая напряженности электрического поля, плотности л-гагнитного потока, току или напряжению; Ut - пересчитанные величины, соответствующие напряженности электрического поля, плотности магнитного потока, току или напряжению только от испытуемого изделия; (7 - пересчитанные величины,