Космонавтика  Экранирование высокочастотных катушек 

1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 39 40 41 42 43 44 45 46 47 48 49 50 51 52 53 54 55 56 57 58 59 60 61 62 63 64 65 66 67 68 69 70 71 72 73 74 75 76 77 78 79 80 81 82 83 84 85 86 87 88 89 90 91 92 93 94 95 96 97 98 99 100 101 102 103 104 105 106 107 108 109 110 111 112 113 114 115 116 117 118 119 120 121 122 123 124 125 126 127 128 129 130 131 132 133 134 135 136 137 138 139 140 141 142 143 144 145 146 147 148 149 150 151 152 153 154 155 156 157 158 159 160 161 162 163 164 165 166 167 168 169 170 171 172 173 174 175 176 177 178 179 180 181 182 183 184 185 186 187 188 189 190 191 192 193 194 195 196 197 198 199 200 201 202 203 204 205 206 207 208 209 210 211 212 213 214 215 216 217 218 219 220 221 222 223 224 225 226 227 228 229 230 231 232 233 234 235 236 237 [ 238 ] 239 240 241 242 243 244 245 246 247 248 249 250 251 252 253 254 255 256 257 258 259 260 261 262 263 264 265 266 267 268 269 270 271 272 273 274 275 276 277 278 279 280 281 282 283 284

Расчетная формула для случая функциональной и нормальной прямолинейной корреляционной связи имеет вид

6 ( 5:) =

(19.8)

где А, Aj, Лу, - коэффициенты влияния; {д.),

6 ( 5.) - половины поля допуска ТК параметров Qj и Q/i; г/ ,- ., - коэффициент корреляции, характеризующей степень связи между погрешностями ТК параметров и /.j.

В формуле (19.8) по i! суммируются все независимые корреляционно и функционально зависимые погрешности, а по /, / + 1


vtg W-ZI

-Ю,5 -6,5 -2.5 по ГУ

вС- г(п= 60шт.)


-ZOi -60°С

го -го

-2 о 2 6 по ТУ


-г о г и S голо-* по ту

СП-1А(П.1б0шт.)




0,1 0,13 0,1б 0,19

(п SQtum.)

О 0,1* 0,5 О.вВ 1,22 OflW

MHWIA (nSOtum.)

157

-25 -5 гг

ло ТУ

SQOiclO

-32,5 -2.5 17.5 по Ту

ПСО-r-z50-r-680-t сгм-1-г50-г-бго-1

(пЮОшт.) (п=ЮОшт)

Рис. 19.1 Гистограммы распределений ТК сопротивлений резисторов, коэффициентов усиления транзисторов и емкости а,

конденсаторов

суммируются пары погрешностей, связанных корреляционной и функциональной зависимостями, определяемыми коэффициентом корреляции rjji.

В зависимости от степени корреляционной связи коэффициенты 0> /+1 берутся в пределах от-1 до-Ы. При положительном rj,j+i с увеличением qi растет и Qji, а при отрицательном - Qj. падает с ростом qj. Крайние пределы соответствуют линейной функ-

циональной зависимости между погрешностями.

Значения rj,j.i определяются для каждого отдельного случая расчетным илн статистическим путем [6, 12].

Среди источников возникновения погрешностей температура действует как доминирующий фактор, деформируя закон нормального распределения, смещая а изменяя поле температурных погреш ностей (рис. 19.2). Однако при расчете допусков нужно определить



пределы изменения параметров РЭА под воздействием температуры, а не закон распределения плотности вероятности температурных погрешностей. Для такого расчета достаточно знать лишь количественные характеристики нормальных распределений при крайних температурах, так как при максимальном перепаде температур в заданном диапазоне они будут максимальными. Это позволяет для простоты аппроксимировать реальный закон распределения температурных погрешностей выходного параметра узла композицией закона равной вероятности и двух законов нормального распределения с различными среднеквадратическими погрешностями.


Рис. 19.2. Результирующий закон распределения температурных погрешностей выходного параметра ФУ.

Таким образом, расчет предельных значений температурных погрешностей Aj параметра ФУ ведется для крайних (плюсовой и минусовой) температур рабочего диапазона

r±-[Y)r Ч)г = [( г)± ( х)1Д- (19-9)

Индексы ± в обозначении Д указывают на знак температуры.

По предельным значениям Aj- определяются максимально возможные отклонения и назначается величина температурного допуска

N )т-

(19.10)

В основе предлагаемого метода расчета температурных допусков лежит предположение о линейном изменении параметров схемных элементов от температуры (рис. 19.3, кривая /), но он может быть распространен и на случаи, когда эти изменения имеют нелинейный характер (рис. 19.3, кривые 2, 3) к указывается лишь максимальная величина относительного изменения параметра при крайних значениях рабочего дпапазона температур.



1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 39 40 41 42 43 44 45 46 47 48 49 50 51 52 53 54 55 56 57 58 59 60 61 62 63 64 65 66 67 68 69 70 71 72 73 74 75 76 77 78 79 80 81 82 83 84 85 86 87 88 89 90 91 92 93 94 95 96 97 98 99 100 101 102 103 104 105 106 107 108 109 110 111 112 113 114 115 116 117 118 119 120 121 122 123 124 125 126 127 128 129 130 131 132 133 134 135 136 137 138 139 140 141 142 143 144 145 146 147 148 149 150 151 152 153 154 155 156 157 158 159 160 161 162 163 164 165 166 167 168 169 170 171 172 173 174 175 176 177 178 179 180 181 182 183 184 185 186 187 188 189 190 191 192 193 194 195 196 197 198 199 200 201 202 203 204 205 206 207 208 209 210 211 212 213 214 215 216 217 218 219 220 221 222 223 224 225 226 227 228 229 230 231 232 233 234 235 236 237 [ 238 ] 239 240 241 242 243 244 245 246 247 248 249 250 251 252 253 254 255 256 257 258 259 260 261 262 263 264 265 266 267 268 269 270 271 272 273 274 275 276 277 278 279 280 281 282 283 284